Физика, архив статей за 11-03-2010

11.03.2010 (23:45) Естественные науки >> Физика Подсказка для атомного-силового микроскопа Небольшая модификация, предложенная учеными из Тайваня, позволит атомному силовому микроскопу получать изображения столь же высокой точности, как и сканирующим туннельным приборам.В методике сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) для отображения поверхности ...>>